詳細摘要： 樣品容量：全200mm晶片、150mm晶片、晶片碎片和短柱安裝樣品
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-16 在線留言
青島佳鼎分析儀器有限公司
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詳細摘要： CS4800提供高質量的SEM成像、改進的測量精度以及快速、自動化的操作，旨在提高現有生產線的生產力和運營效率，并提高客戶的過程控制能力
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細摘要： SEMVisionG2的檢測組裝和處理使微小和淺缺陷的高質量地形圖像成為可能
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細摘要： Surfscan®SP2和SP2XP系統是KLA革命性的SurfscanSP1平臺的第二代產品，用于無圖案晶圓檢測
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細摘要： TOPCON拓普康芯片外觀檢測設備Vi4202可以全自動檢查在晶片上圖案化的芯片和在擴展前切割的晶片（表面朝上/背面朝上）中的微小異物和缺陷，并以芯片為單位確定...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細摘要： Hitachi日立電子顯微鏡SEMS-2600N，于2003年投入使用，用于晶圓檢測
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-10 在線留言
詳細摘要： 200kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現0.078nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX
產品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOSGmbH公司(總經理MaxHaider先生)共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適...
產品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細摘要： 現有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regu...
產品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細摘要： 特征尺寸測量用掃描電子顯微鏡CD-SEMS-8840，適用于6英寸和8英寸晶圓的線寬測試
產品型號：所在地：更新時間：2022-05-26 在線留言
詳細摘要： 日立CD-SEM二手現貨掃描電鏡S-9220適用于8英寸晶圓的監測，CD檢測范圍0.1~2.0μm，吞吐量45wph，放大倍數1000~300,000
產品型號：所在地：更新時間：2022-05-26 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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